APP下载

用于特征X射线测厚仪的数据处理器电路设计

2010-11-15屈国普

湖南科技学院学报 2010年8期
关键词:测厚仪上位X射线

唐 伟 屈国普 赵 越

(南华大学 核科学技术学院,湖南 衡阳 421001)

用于特征X射线测厚仪的数据处理器电路设计

唐 伟 屈国普 赵 越

(南华大学 核科学技术学院,湖南 衡阳 421001)

利用特征X射线测厚是一种适用又方便的方法。数据处理器是测厚仪的重要部分之一,它具有数据采集和与电脑通信的功能。数据处理器包括脉冲整形和单片机系统两个模块;处理器工作正常,达到设计的要求。

数据处理器;单片机;测试

纸张、薄膜、铝箔和铜箔等工业生产在我国已经颇具规模,在追求质量和节约原材料的今天,对在线测量仪器提出更高要求,目前用于该项在线测量主要仪器主要有β射线测厚仪和X射线测厚仪,由于它们都存在射线能量不是单一,从原理上制约了测量线性和精度,只能通过在不同范围采用不同补偿方法来提高精度,使用不方便。特征 X射线测厚采用能量较低,能量单一的特征 X射线测厚,在一定的厚度范围内,测量厚度线性好,精度较高。在较薄物质测量时用特征X射线测厚来代替β测厚仪,可以使测量更方便,高效[1]。特征X射线能量低,防护容易,对工作人员没有伤害。因此用特征 X射线用来测量纸张、薄膜、铝箔等较薄的物质厚度具有优势,数据处理器是测厚仪的重要部分之一,数据处理器的成功设计是测厚仪制作的关键。

1. 数据处理器电路设计

数据处理器,主要包括脉冲整形模块、小型单片机系统、两个部分;脉冲整形模块主要完成对脉冲的整形,把经过放大器放大的信号成形为方波脉冲;以达到单片机能够采集的宽度;小型单片机系统主要完成定时、计数和通过串口向上位机发送数据处理器采集到的数据信息。

1.1 脉冲整形模块设计

从正比计数管输出的信号为脉冲信号,为了能够输出适合单片机采集的方波信号,我们在数据获取器中设计了脉冲整形电路。先通过电路将脉冲信号转变成方波信号,然后在将发波信号展宽到单片机能够采集的宽度。方波整形电路由输入电路、阈值甄别电路几个部分组成。

1.1.1 输入电路

输入电路部分有电阻R1和R2构成的输入衰减器和由三极管Q1和Q2组成的输入跟随器构成[2]。输入电路如图1.1所示:

图 1 输入电路简图Fig.1 Input circuit diagram

由于电压比较器的阈值只能做到5V,为了使单道能够达到更大的分析范围,在输入端引入了由 R1,R2组成的 2:1的衰减器,由三极管Q1,Q2组成了复合跟随器,为了获得好的负载能力和高的传输系数。

1.1.2 阈值甄别电路

甄别阈电路有电压比较器LM710和其它一些电容电阻组成。甄别器是以集成模拟比较器LM710为核心设计电路的,如图1.2。由于输入脉冲由电压比较器的负端输入,在输入脉冲比参考电压小时电压比较器的输出电压为高电平“1”,当输入电压比参考电压高时电压比较器输出电平就由“1”向“0”跳变,输出负的脉冲。在单道有脉冲输出的情况下即VH(上阈)>Vi(输入)>VL(下阈)时,上电压甄别器的输出应该为高电平,下甄别器的输出电压为负脉冲低电平;当 Vi>VH时,上下甄别器的输出都为负脉冲。线性组件构成的甄别器具有好的甄别特性和较高的稳定性。

图2 甄别阈电路图Fig.2 Discrimating threshold circuit

1.1.3 脉冲展宽电路

图3 脉冲展宽的单稳态触发电路Fig.3 the monostablity trigger circuit for pulse broading

1.2 单片机系统

小型单片机系统主要完成定时、计数和通过串口向上位机数据获取器采集到的数据信息。本项目采用的是STC89C516RD+单片机,该单片机具有超低功耗、超强抗干扰能力;单片机有三个定时器 T0、T1、T2[3];在该设计中T0为定时器,T1作为计数器,T3作为波特率发生器;工作时T0定时50ms产生一次中断,T0产生20中断后将T1计到的脉冲数通过串口发送到上位机,等待上位机对数据进行处理;单片机和上位机PC之间通过RS-232串口进行通信[4][5]。根据获取处理器的性能要求,对单片机的软件进行了设计。系统软件功能模块如图1.4示。

图4 单片机工作流程图Fig.4 The working flow chart of single machine

2 电路测试及结果分析

数据处理器硬件电路和软件完成后,对数据处理器电路进行了调试。数据处理器和上位机通信流畅,上位机能够很好的对数据处理器进行控制。用精密脉冲发生器产生的脉冲输入数据处理器,测量结果如表1所示:

表1 处理器测量结果

数据处理器对随机脉冲信号进行了测量,同时和定标器的测量结果进行对比,两者结果能够较好的吻合,数据处理器测量结果教精确且测量效率高。

3 结束语

设计的数据处理器经过测试,具有数据采集和上位机完成通信的功能;处理器使得下位机和上位机的通信更快速方便,上位机能够适时的对下位机进行控制,使测量方便高效,测量频率达到105,可以应用于特征X射线测厚中。

[1]赵越,屈国普,等.透射式特征X射线测厚技术实验研究[J].核电子学与探测技术,2009,(1):81.

[2]李朝青主编.PC机及单片机数据通信技术[M]. 北京:北京航空航天大学出版社,2006.

[3]马忠梅等. 单片机的C语言应用程序设计[M]. 北京:北京航空航天大学出版社,2003.

(责任编校:何俊华)

O571

A

1673-2219(2010)08-0022-02

2010-03-25

唐伟(1967-),男,湖南省祁阳县人,高级工程师。主要从事电工电子技术、自动控制及核测控方面工程应用及教学科研工作。

猜你喜欢

测厚仪上位X射线
实验室X射线管安全改造
虚拟古生物学:当化石遇到X射线成像
特斯拉 风云之老阿姨上位
大型仪表的使用和维护
关于JJF1255-2010《厚度表校准规范》和JJF1488-2014《橡胶、塑料薄膜测厚仪校准规范》几点理解
“三扶”齐上位 决战必打赢
基于ZigBee和VC上位机的教室智能监测管理系统
医用非固定X射线机的防护管理
以新思路促推现代农业上位
超声波测厚技术的应用