国际微电子计量与测试技术研讨会(CMMT 2010中国武汉)征文通知(http://www.cmmt.org/cmmt2010)

2010-04-26

舰船电子工程 2010年4期

一、会议主题

微电子技术是当代技术革命的先导与核心。微电子技术的发展,离不开微电子计量与测试技术的保障。当前,微电子器件的发展呈现规模愈来愈大、集成度愈来愈高、速度愈来愈快、结构愈来愈复杂、功能愈来愈强大的特点,同时更高精度、更强功能、更复杂结构的集成电路测试系统得到广泛的推广与应用,给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。在科技创新的形势下,迫切需要加强国际、国内学术界与工业界的交流与沟通,深入解析微电子计量与测试的国际化发展趋势,积极开展多种形式的国际交流、合作与协作,共同探讨并充分利用核心微电子技术给人类带来的巨大影响力与创造力。

在2008年10月第一届中国微电子计量与测试技术研讨会(CMMT 2008)召开的基础上,计划于2010年9月15-17日在中国武汉召开国际微电子计量与测试技术研讨会(International Conference on Microelectronic Measurement and Test,简称CMMT 2010)。欢迎国际与国内从事微电子计量与测试理论研究、工程应用研究以及计量测试领域相关工作的专家、学者以及研究工作者踊跃投稿并积极参会。

二、征文范围(包括但不限于以下内容)

微电子计量专题微电子测试专题◆先进计量技术◆量值溯源与量值传递体系◆测量不确定度评定方法研究◆标准样片制备与应用技术◆测试设备校准技术◆高速接口板设计与校准技术◆校准软件设计与开发技术◆虚拟仪器构建技术◆校准装置研制技术◆计量保障技术◆测试设备计量标准◆SOC、SIP测试◆DSP、FPGA 测试◆纳米、生物、光电芯片测试◆内建自测试(BIST)技术◆可测试性设计(DFT)技术◆测试生成技术与方法◆测试适配器设计◆测试设备体系结构◆测试设备故障诊断与维护◆测试组件分析◆测试软件测评