晶粒尺寸和应变的Ｘ射线粉末衍射法测定

骆　军　朱航天　梁敬魁

摘要文章介绍了根据x射线粉末衍射线形测定试样晶粒度和点阵畸变(应变)的主要方法，并以c03 04纳米材料晶粒度和应变的测量为例加以说明，通过与扫描电镜观察的统计结果进行比较，分析了各种方法计算晶粒尺寸的可靠性和适用性，

关键词x射线粉末衍射，晶粒尺寸，应变，纳米颗粒